三綜合試驗(yàn)箱適用于航天、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟取穸?、振?dòng)、環(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。在進(jìn)行溫度試驗(yàn)時(shí)需要考慮詳盡周全，所以考慮選擇相應(yīng)合適的試驗(yàn)設(shè)備也是至關(guān)重要的：

　　要求測(cè)試范圍要滿足產(chǎn)品失效可能性試驗(yàn)范圍，即無(wú)論是高溫試驗(yàn)箱還是低溫試驗(yàn)箱或冷熱沖擊箱都應(yīng)能夠滿足試驗(yàn)要求所規(guī)定的極值溫度條件。

　　保證試驗(yàn)樣品的體積不應(yīng)大于試驗(yàn)設(shè)備工作容積的1/5的原則來(lái)選擇試驗(yàn)設(shè)備。

　　為保證試驗(yàn)區(qū)內(nèi)溫度的均勻性，根據(jù)樣品的散熱性來(lái)選擇是否采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)或無(wú)強(qiáng)迫空氣循環(huán)方式。設(shè)備溫度分布的差異對(duì)試驗(yàn)結(jié)果影響會(huì)更大，當(dāng)采用較大的樣品時(shí)，或者在同一時(shí)間測(cè)試的樣品數(shù)量較大時(shí)，試驗(yàn)的結(jié)果將隨著位置的不同而存在很大差別，因此應(yīng)該選擇溫度均勻性盡可能好的設(shè)備。

　　樣品溫度有采用上風(fēng)和采用下風(fēng)傳感器溫度測(cè)量?jī)煞N方式。設(shè)備的溫度控制傳感器位置及控制方法是可以選擇的，要根據(jù)試驗(yàn)要求選擇合適的設(shè)備。

　　防止試驗(yàn)區(qū)產(chǎn)生熱輻射或者熱傳導(dǎo)所引起的樣品吸熱或放熱，要求設(shè)備的加熱或冷卻系統(tǒng)裝置對(duì)樣品無(wú)影響。

　　便于記錄、顯示，進(jìn)行循環(huán)試驗(yàn)時(shí)要求安裝自動(dòng)計(jì)數(shù)器、指示燈、記錄設(shè)備以及自動(dòng)關(guān)閉等儀表裝置。

　　便于樣品放置可以要求用于放置或懸掛的樣品架，且樣品架不會(huì)因高低溫變化改變其機(jī)械性能。

　　應(yīng)具有將測(cè)試電源引入設(shè)備工作室內(nèi)的引線孔。

　　無(wú)論對(duì)于樣品的損壞性和試驗(yàn)人員安全都要有保護(hù)防范措施。如設(shè)有觀察窗及照明，設(shè)有電源斷相、缺水、超溫保護(hù)、操作人員保護(hù)等報(bào)警裝置。

　　是否需要遠(yuǎn)程遙控監(jiān)測(cè)功能。